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全面分析LED的可靠性試驗的必要性

釋出時間│▩✘: 2015-05-29  點選次數│▩✘: 1325次

我司生產的可靠性環境試驗裝置在LED行業應用非常廣泛▩•◕·▩,在從事業務過程中▩•◕·▩,常常會接到客戶說│▩✘:“我們是LED行業的▩•◕·▩,你幫我推薦些試驗裝置吧"·╃。那麼LED行業到底需要哪些裝置呢│╃✘☁?

LED在實際使用中▩•◕·▩,由於複雜的環境以及封裝工藝侷限性從而使封裝材料退化◕↟•、熒光粉退化◕↟•、金屬電遷移◕↟•、區域性溫度過高產生的熱應力所引起的晶片和矽膠的分層或金線斷裂等等▩•◕·▩,從而影響LED發光甚至導致整個LED的失效·╃。而且LED產生的高溫會導致晶片的發光效率降低▩•◕·▩,光衰加快◕↟•、色移等嚴重後果·╃。

 LED照明系統中的典型失效模態


等級

失效模式

晶片

LED晶片失效◕↟•、光衰

封裝

斷線▩•◕·▩,脫焊

光型變化

靜電擊穿

膠材黃化

照明系統

光型變化

驅動失效

靜電擊穿

溼氣侵入


由於LED壽命長▩•◕·▩,通常採取加速環境試驗的方法進行可靠性測試與評估·╃。加速度測試將會模仿燈具的應用條件或使用者要求▩•◕·▩,這樣可以更有效地研究各種破壞機理▩•◕·▩,提供大量資料去研究LED的結構◕↟•、材料◕↟•、工藝從而更好完善LED產品·╃。一些典型的加速可靠性試驗·╃。

應用於LED照明系統的典型加速可靠性實驗


測試專案

條件

冷熱迴圈

-40℃~125℃200H迴圈

高溫高溼

85℃/85%▩•◕·▩,1000小時

關機測試

1小時開/1小時關

震動測試

隨機振動


    然而▩•◕·▩,加速老化試驗只是研究問題的一個方面▩•◕·▩,對LED壽命的預測機理和方法的研究仍是有待研究的難題·╃。現在的LED技術面臨著巨大的挑戰和機遇·╃。企業的目標主要是保證產品長期的可靠性▩•◕·▩,例如▩•◕·▩,根據產品不同▩•◕·▩,LED應用的範圍壽命從7000小時到50000~100000小時不等·╃。這對於一個電子企業是有相當挑戰性的▩•◕·▩,因為他們的電子產品現在只有2-3年壽命·╃。對於50000~100000小時的SSL系統(包括電源驅動)▩•◕·▩,有必要進行可靠性設計▩•◕·▩,以符合產品的高要求·╃。

  目前▩•◕·▩,如何透過加速老化試驗準確地預測LED產品的可靠性還是相當有挑戰性的·╃。對於LED產品的長期可靠性▩•◕·▩,應當關注如何建立用加速試驗來反映產品中出現的問題·╃。對於瞭解和預測宏觀系統的可靠性▩•◕·▩,可測性非常具有挑戰性▩•◕·▩,主要是因為可靠性是一個多學科的問題▩•◕·▩,並且涉及到材料◕↟•、設計◕↟•、製造工藝◕↟•、試驗和應用條件·╃。因此▩•◕·▩,有必要開發LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具效能測試實驗▩•◕·▩,從而可以有效地研究關於LED的各種破壞機理·╃。

飛利浦公司目前致力於研究可靠性測試標準▩•◕·▩,從而深入瞭解LED以及電源驅動的失效機理·╃。去年年底已經在我司訂製了一臺快速升降溫的試驗箱·╃。

為此▩•◕·▩,LED行業需要用到恆溫恆溼試驗箱▩•◕·▩,高低溫試驗箱▩•◕·▩,快速溫變試驗箱▩•◕·▩,高低溫衝擊試驗箱▩•◕·▩,電磁振動試驗檯▩•◕·▩,模擬運輸振動試驗檯▩•◕·▩,淋雨試驗箱▩•◕·▩,砂塵試驗箱等▩•◕·▩,我們公司可以成套銷售▩•◕·▩,為您解決一站式服務▩•◕·▩,歡迎前來公司實地考察▩•◕·▩,諮詢·╃。

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