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  • 重慶可程式冷熱衝擊試驗箱
    重慶可程式冷熱衝擊試驗箱

    重慶冷熱衝擊試驗箱用於測試其材料在瞬間下經過*溫和極低溫的連續環境下所能承受的程度✘₪,藉以在zui短時間內試驗其因高▩▩₪··、低溫的反覆抵拉力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害✘₪,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的元件✘₪,無一不需要它的理想測試工具.

    更新時間│·:2022-11-14型號│·:瀏覽量│·:3395
  • QS-710超快速冷熱衝擊試驗機
    QS-710超快速冷熱衝擊試驗機

    超快速冷熱衝擊試驗機適用於各類半導體晶片▩▩₪··、快閃記憶體Flash/EMMC▩▩₪··、PCB 電路板IC▩▩₪··、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試▩▩₪··、SFP 光模組高低溫測試等)▩▩₪··、電子行業等進行IC 特性分析▩▩₪··、高低溫迴圈測試▩▩₪··、溫度衝擊測試▩▩₪··、失效分析等可靠性試驗↟╃╃☁✘。

    更新時間│·:2022-11-15型號│·:QS-710瀏覽量│·:1855
  • QSWQ氣流儀
    QSWQ氣流儀

    氣流儀適用於各類半導體晶片▩▩₪··、快閃記憶體Flash/EMMC▩▩₪··、PCB 電路板IC▩▩₪··、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試▩▩₪··、SFP 光模組高低溫測試等)▩▩₪··、電子行業等進行IC 特性分析▩▩₪··、高低溫迴圈測試▩▩₪··、溫度衝擊測試▩▩₪··、失效分析等可靠性試驗↟╃╃☁✘。

    更新時間│·:2022-11-15型號│·:QSWQ瀏覽量│·:2382
  • QS-710-WQ高速低溫氣流衝擊試驗機
    QS-710-WQ高速低溫氣流衝擊試驗機

    高速低溫氣流衝擊試驗機適用於各類半導體晶片▩▩₪··、快閃記憶體Flash/EMMC▩▩₪··、PCB 電路板IC▩▩₪··、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試▩▩₪··、SFP 光模組高低溫測試等)▩▩₪··、電子行業等進行IC 特性分析▩▩₪··、高低溫迴圈測試▩▩₪··、溫度衝擊測試▩▩₪··、失效分析等可靠性試驗↟╃╃☁✘。

    更新時間│·:2022-11-15型號│·:QS-710-WQ瀏覽量│·:607
  • 冷熱衝擊試驗箱標準
    冷熱衝擊試驗箱標準

    冷熱衝擊試驗箱標準用來測試材料結構或複合材料✘₪,在瞬間下經*溫和極低溫的連續環境下所能承受的程度✘₪,藉以在短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害✘₪,適用的物件包括金屬▩▩₪··、塑膠▩▩₪··、橡膠▩▩₪··、電子…等材料✘₪,可作為其產品改進的依據或參考↟╃╃☁✘。

    更新時間│·:2022-11-15型號│·:瀏覽量│·:3135
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