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  • 重慶可程式冷熱衝擊試驗箱
    重慶可程式冷熱衝擊試驗箱

    重慶冷熱衝擊試驗箱用於測試其材料在瞬間下經過*溫和極低溫的連續環境下所能承受的程度·╃╃,藉以在zui短時間內試驗其因高│◕、低溫的反覆抵拉力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害·╃╃,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的元件·╃╃,無一不需要它的理想測試工具.

    更新時間◕☁▩╃:2017-11-14型號◕☁▩╃:瀏覽量◕☁▩╃:3209
  • QS-710超快速冷熱衝擊試驗機
    QS-710超快速冷熱衝擊試驗機

    超快速冷熱衝擊試驗機適用於各類半導體晶片│◕、快閃記憶體Flash/EMMC│◕、PCB 電路板IC│◕、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試│◕、SFP 光模組高低溫測試等)│◕、電子行業等進行IC 特性分析│◕、高低溫迴圈測試│◕、溫度衝擊測試│◕、失效分析等可靠性試驗·↟☁•☁。

    更新時間◕☁▩╃:2019-12-18型號◕☁▩╃:QS-710瀏覽量◕☁▩╃:1646
  • QSWQ氣流儀
    QSWQ氣流儀

    氣流儀適用於各類半導體晶片│◕、快閃記憶體Flash/EMMC│◕、PCB 電路板IC│◕、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試│◕、SFP 光模組高低溫測試等)│◕、電子行業等進行IC 特性分析│◕、高低溫迴圈測試│◕、溫度衝擊測試│◕、失效分析等可靠性試驗·↟☁•☁。

    更新時間◕☁▩╃:2019-12-18型號◕☁▩╃:QSWQ瀏覽量◕☁▩╃:1957
  • QS-710-WQ高速低溫氣流衝擊試驗機
    QS-710-WQ高速低溫氣流衝擊試驗機

    高速低溫氣流衝擊試驗機適用於各類半導體晶片│◕、快閃記憶體Flash/EMMC│◕、PCB 電路板IC│◕、光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試│◕、SFP 光模組高低溫測試等)│◕、電子行業等進行IC 特性分析│◕、高低溫迴圈測試│◕、溫度衝擊測試│◕、失效分析等可靠性試驗·↟☁•☁。

    更新時間◕☁▩╃:2019-12-18型號◕☁▩╃:QS-710-WQ瀏覽量◕☁▩╃:446
  • 冷熱衝擊試驗箱標準
    冷熱衝擊試驗箱標準

    冷熱衝擊試驗箱標準用來測試材料結構或複合材料·╃╃,在瞬間下經*溫和極低溫的連續環境下所能承受的程度·╃╃,藉以在短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害·╃╃,適用的物件包括金屬│◕、塑膠│◕、橡膠│◕、電子…等材料·╃╃,可作為其產品改進的依據或參考·↟☁•☁。

    更新時間◕☁▩╃:2018-10-09型號◕☁▩╃:瀏覽量◕☁▩╃:2935
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