快速高低溫衝擊試驗機又叫熱流儀✘↟•☁◕，氣壓衝擊試驗機等✘↟•☁◕，適用於光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·↟₪↟、SFP 光模組高低溫測試等）↟·↟₪↟、各類半導體晶片↟·↟₪↟、快閃記憶體Flash/EMMC↟·↟₪↟、PCB 電路板IC↟·↟₪↟、電子行業等進行IC 特性分析↟·↟₪↟、溫度衝擊測試↟·↟₪↟、高低溫迴圈測試↟·↟₪↟、失效分析等可靠性試驗的裝置│•·。

熱流儀工作原理適用於各類半導體晶片↟·↟₪↟、快閃記憶體Flash/EMMC↟·↟₪↟、PCB 電路板IC↟·↟₪↟、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·↟₪↟、SFP 光模組高低溫測試等）↟·↟₪↟、電子行業等進行IC 特性分析↟·↟₪↟、高低溫迴圈測試↟·↟₪↟、溫度衝擊測試↟·↟₪↟、失效分析等可靠性試驗│•·。

超快速冷熱衝擊熱流儀適用於各類半導體晶片↟·↟₪↟、快閃記憶體Flash/EMMC↟·↟₪↟、PCB 電路板IC↟·↟₪↟、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·↟₪↟、SFP 光模組高低溫測試等）↟·↟₪↟、電子行業等進行IC 特性分析↟·↟₪↟、高低溫迴圈測試↟·↟₪↟、溫度衝擊測試↟·↟₪↟、失效分析等可靠性試驗│•·。

超快速高低溫氣流衝擊試驗機適用於各類快閃記憶體Flash/EMMC↟·↟₪↟、PCB 電路板IC↟·↟₪↟、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·↟₪↟、SFP 光模組高低溫測試等）↟·↟₪↟、半導體晶片↟·↟₪↟、電子行業等進行IC 特性分析↟·↟₪↟、溫度衝擊測試↟·↟₪↟、高低溫迴圈測試失效分析等可靠性試驗│•·。

超高速高低溫氣流衝擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件✘↟•☁◕，將其隔離出來單獨進行高低溫衝擊✘↟•☁◕，而不影響周邊其它器件✘↟•☁◕，與傳統冷熱衝擊試驗箱相比✘↟•☁◕，溫變變化衝擊速率更快│•·。