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    QS-710快速高低溫衝擊試驗機

    快速高低溫衝擊試驗機又叫熱流儀▩₪,氣壓衝擊試驗機等▩₪,適用於光通訊(如收發器 transceiver 高低溫測試↟·▩₪╃、SFP 光模組高低溫測試等)↟·▩₪╃、各類半導體晶片↟·▩₪╃、快閃記憶體Flash/EMMC↟·▩₪╃、PCB 電路板IC↟·▩₪╃、電子行業等進行IC 特性分析↟·▩₪╃、溫度衝擊測試↟·▩₪╃、高低溫迴圈測試↟·▩₪╃、失效分析等可靠性試驗的裝置▩₪↟。

    更新時間✘☁╃☁•:2020-04-23型號✘☁╃☁•:QS-710瀏覽量✘☁╃☁•:632
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    更新時間✘☁╃☁•:2019-12-25型號✘☁╃☁•:QSWQ7100瀏覽量✘☁╃☁•:2681
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    更新時間✘☁╃☁•:2019-12-25型號✘☁╃☁•:QSWQ-710瀏覽量✘☁╃☁•:811
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    更新時間✘☁╃☁•:2019-12-25型號✘☁╃☁•:瀏覽量✘☁╃☁•:1850
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    QS-710WQ超高速高低溫氣流衝擊試驗機

    超高速高低溫氣流衝擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件▩₪,將其隔離出來單獨進行高低溫衝擊▩₪,而不影響周邊其它器件▩₪,與傳統冷熱衝擊試驗箱相比▩₪,溫變變化衝擊速率更快▩₪↟。

    更新時間✘☁╃☁•:2019-12-24型號✘☁╃☁•:QS-710WQ瀏覽量✘☁╃☁•:1942
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