快速高低溫衝擊試驗機又叫熱流儀▩₪，氣壓衝擊試驗機等▩₪，適用於光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·▩₪╃、SFP 光模組高低溫測試等）↟·▩₪╃、各類半導體晶片↟·▩₪╃、快閃記憶體Flash/EMMC↟·▩₪╃、PCB 電路板IC↟·▩₪╃、電子行業等進行IC 特性分析↟·▩₪╃、溫度衝擊測試↟·▩₪╃、高低溫迴圈測試↟·▩₪╃、失效分析等可靠性試驗的裝置▩₪↟。

熱流儀工作原理適用於各類半導體晶片↟·▩₪╃、快閃記憶體Flash/EMMC↟·▩₪╃、PCB 電路板IC↟·▩₪╃、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·▩₪╃、SFP 光模組高低溫測試等）↟·▩₪╃、電子行業等進行IC 特性分析↟·▩₪╃、高低溫迴圈測試↟·▩₪╃、溫度衝擊測試↟·▩₪╃、失效分析等可靠性試驗▩₪↟。

超快速冷熱衝擊熱流儀適用於各類半導體晶片↟·▩₪╃、快閃記憶體Flash/EMMC↟·▩₪╃、PCB 電路板IC↟·▩₪╃、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·▩₪╃、SFP 光模組高低溫測試等）↟·▩₪╃、電子行業等進行IC 特性分析↟·▩₪╃、高低溫迴圈測試↟·▩₪╃、溫度衝擊測試↟·▩₪╃、失效分析等可靠性試驗▩₪↟。

超快速高低溫氣流衝擊試驗機適用於各類快閃記憶體Flash/EMMC↟·▩₪╃、PCB 電路板IC↟·▩₪╃、光通訊（如收發器 transceiver 高低溫測試↟·▩₪╃、SFP 光模組高低溫測試等）↟·▩₪╃、半導體晶片↟·▩₪╃、電子行業等進行IC 特性分析↟·▩₪╃、溫度衝擊測試↟·▩₪╃、高低溫迴圈測試失效分析等可靠性試驗▩₪↟。

超高速高低溫氣流衝擊試驗機可針對眾多元器件中的某一單個IC或其它元件▩₪，將其隔離出來單獨進行高低溫衝擊▩₪，而不影響周邊其它器件▩₪，與傳統冷熱衝擊試驗箱相比▩₪，溫變變化衝擊速率更快▩₪↟。